智能設(shè)備

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射頻綜合測試儀MDR-T8200-P-G

此款射頻綜合測試儀，用于智能卡、RFID標(biāo)簽，低頻/高頻諧振頻率檢測，便攜式測試裝置，輕松地實(shí)現(xiàn)諧振頻率、Q值、頻寬等檢測

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相關(guān)產(chǎn)品

此款射頻綜合測試儀，用于智能卡、RFID標(biāo)簽，低頻/高頻諧振頻率檢測，便攜式測試裝置，輕松地實(shí)現(xiàn)諧振頻率、Q值、頻寬等檢測。

射頻綜合測試儀檢測功能介紹：
? 智能卡、RFID標(biāo)簽的諧振頻率等參數(shù)檢測：有些智能卡或RFID標(biāo)簽的諧振頻率會(huì)隨著射頻功率的變化而改變。該設(shè)備可將射頻功率設(shè)置在-30dBm至15dBm范圍內(nèi)，并且可在高射頻功率下確定諧振特性，使安裝在卡或RFID標(biāo)簽上的芯片能夠進(jìn)行通信
? UID追蹤與管理：使用UID進(jìn)行可跟蹤管理（檢查日志保存為CSV格式的文本文件）

射頻綜合測試儀應(yīng)用范圍：
1、智能卡、RFID標(biāo)簽的諧振頻率檢測
      ? 判斷測量結(jié)果是否通過
      ? 自動(dòng)生成檢查日志文件
      ? 讀取芯片UID內(nèi)碼
      ? 可調(diào)射頻功率達(dá)到15dBm
      ? 芯片綁定前可對射頻天線檢測

2、RFID讀寫器天線的諧振頻率檢測
? 檢查電容器失效的共振頻率

3、無線電源供應(yīng)的自諧振頻率檢測

射頻綜合測試儀產(chǎn)品參數(shù)：
      ? 測量方法：磁場耦合測量方法
      ? 測量內(nèi)容：傳輸電壓和反射電壓的振幅
      ? 檢測項(xiàng)目：諧振頻率、衰減、Q值、UID讀取
      ? 支持協(xié)議：ISO14443A (MIFARE Classic, MIFARE Ultralight)；ISO14443 B(僅 PUPI), FEliCa；ISO15693 (Tag -it HF - I Plus/Pro, ICODE SLIX2)
      ? 測量點(diǎn)數(shù)：100～2048點(diǎn)
      ? 檢測時(shí)間（高頻頻段測量點(diǎn)數(shù)=1000）：諧振頻率檢測：0.5秒；諧振頻率和ID讀取：1秒（檢測時(shí)間取決于PC端的設(shè)置、機(jī)器檢測內(nèi)容的設(shè)置、檢測對象特性等）
      ? 檢測結(jié)果檢測波形保存功能：檢測日志文件(csv格式文本文件)；UID, PASS / FAIL、諧振頻率、衰減、Q值；波形數(shù)據(jù):.csv, .jpg文件
      ? 頻率設(shè)置范圍：10 KHz～100 MHz
      ? 可調(diào)的射頻功率(@50Ωload)：－30～+15 dBm
      ? DIO 電路類型：隔離I/O
      ? 支持系統(tǒng)：PC(OS) Windows7, Windows8.1, Windows10；USB 2.0 或更高
      ? 電源：USB 總電源(小號(hào)電流500毫安或以下)
      ? 裝箱清單：主機(jī)、USB接口線、同軸電纜(2根)、高頻標(biāo)準(zhǔn)卡尺寸測試治具及可選的不同尺寸規(guī)格的測試天線板、安裝驅(qū)動(dòng)盤
      ? 尺寸：125(W)x165(D)x40(H)(不包括測試治具)；
      ? 重量：0.8kg